離子減簿儀產品介紹
使用徠卡 EM RES102，使您的樣品具備最高水平的靈活性，具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結構。獨特的離子束研磨系統結合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。
各種樣品架可以進行多元化應用。除了高能量的離子銑工藝，徠卡EM RES102也可適于采用低離子能量處理非常柔軟的樣本。
高效并節約成本
TEM，SEM和LM應用功能集于一體
SEM樣品制備最大可達25mm樣品直徑
TEM樣品制備獲得的薄區大，有效提高了TEM樣品制備效率
局域網功能方便遠程操控
安全
離子源和樣品運動馬達驅動，程序化控制，因而可獲得重復性制樣結果
保持樣品原生態
LN2樣品臺使得溫度敏感型樣品可在優化條件下進行離子研磨
操作簡便
內置應用參數庫
幫助文件幫助初學者以及對設備進行維護
TEM或SEM樣品制備 – 在于您的選擇
為了支持多樣化的應用需求，Leica EM RES102 可以裝配各種樣品臺以適用于TEM，SEM及LM樣品制備。預抽室系統實現樣品快速交換，從而可有效提高樣品交換效率 。
SEM
斜坡切割樣品臺適用于切割樣品獲得縱截面(90°)或斜截面(35°)，便于SEM觀察樣品內部縱向結構，可以在環境溫度下或 LN2 制冷情況下使用。
該樣品臺適用于SEM和LM樣品的離子束清潔，拋光和襯度增強，可在環境溫度下或 LN2制冷情況下使用。SEM樣品臺可以制備最大尺寸達 25mm 的樣品。適配器用于夾持商品化生產的帶有3.1mm直徑插針的SEM樣品座。
薄片樣品臺用于夾持最大尺寸為5(H)×7(W)×2(D) mm樣品。該樣品臺可以很方便地被直接轉移進SEM中，而不需要取出樣品。
TEM
TEM樣品夾用于單面或雙面離子束減薄，減薄角度可低至4°。
TEM冷凍樣品夾具與LN2制冷裝置聯用，用于制備溫度敏感型樣品。
FIB清潔樣品臺用于清潔FIB樣品，減少表面無定形非晶層。
