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Touch Probe 掃描探針產(chǎn)品介紹

圓柱形零件光學(xué)測量機

無與倫比的性能

光學(xué)和觸覺功能的結(jié)合，使轉(zhuǎn)動部件實現(xiàn)了完整的測量控制。

一個測量系統(tǒng)，多種選擇。

一個全新的軸測量功能，結(jié)合具體的光學(xué)技術(shù)方法和觸摸探針測量系統(tǒng)。

觸摸式探頭

Vicivision測量系統(tǒng)現(xiàn)在配備了一個Renishaw掃描探針，安裝在光源頂部。探針可以互換，覆蓋整個長度區(qū)域。

光學(xué)與觸覺結(jié)合

當光學(xué)測量系統(tǒng)快速提供靜態(tài)、幾何和螺紋測量、形狀和螺母測量時，觸摸系統(tǒng)檢測不可光學(xué)測量的特征。

光學(xué)和觸摸組合可測量：

軸向和總軸向跳動長度；平面度；垂直性

鍵槽寬度；鍵槽深度；鍵槽長度

Touch Probe 掃描探針技術(shù)參數(shù)

	精度	重復(fù)性
長度值	3,5 + L/200 μm	1 μm
跳動值	1.2 μm	0.3 μm

Touch Probe 掃描探針標準配置

Touch Probe 掃描探針可選配件

Touch Probe 掃描探針相關(guān)視頻

暫時不能提供，如需要詳細資料，請主動與我們聯(lián)系。

Touch Probe 掃描探針資料下載

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Touch Probe 掃描探針相關(guān)產(chǎn)品

MTL X5和MTL X10是專門設(shè)計用于測量微型機械零件、牙科植入物、手表零件和通用微型零件的光學(xué)測量機。
這種高分辨率的機器甚至能檢測到最小的細節(jié)。它具備為各種需求而設(shè)計的測量工具：靜態(tài)測量、六角螺帽和螺紋分析。

Touch Probe 掃描探針配備在Vicivision測量系統(tǒng)的光源頂部, 結(jié)合具體的光學(xué)技術(shù)方法和觸摸探針測量系統(tǒng)，使轉(zhuǎn)動部件實現(xiàn)了完整的測量控制。可測量軸向和總軸向跳動長度、平面度、垂直性、鍵槽寬度、鍵槽深度、鍵槽長度。

M2M3軸類測量機專門設(shè)計適用于生產(chǎn)車間使用，其設(shè)計不僅可測量大軸類工件，還可以捕捉微小的細節(jié)，如斜面和小圓弧。從小零件到140*900mm的大工件測量高端產(chǎn)品。?幾秒鐘即可完成檢測, 幾分鐘即可完成編程。